SNJ54ABT8652JT

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP

SNJ54ABT8652JT
Número de pieza:
SNJ54ABT8652JT
Clasificación de productos:
Texas Instruments
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP
Estado de ROHS:
PDF:
-

SNJ54ABT8652JT Specifications

Tipo de Montaje:
Through Hole
Estado de la Pieza:
Active
Temperatura de Operación:
-55°C ~ 125°C
Número de Bits:
8
Tensión de alimentación:
4.5V ~ 5.5V
Proveedor Dispositivo Paquete:
28-CDIP
Tipo de Lógica:
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Paquete / Carcasa:
28-CDIP (0.300", 7.62mm)

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